在長度計(jì)量中必須遵守五大測量基本原則：阿貝原則、最小變形原則、最短測量鏈原則、封閉原則和基準(zhǔn)統(tǒng)一原則。

—、阿貝原則

測量是確定被測對象的量值而進(jìn)行的實(shí)驗(yàn)過程，通常選擇比較的形式獲得被測對象的量值。所謂比較的形式是指被測對象與量具或儀器的測量標(biāo)準(zhǔn)器進(jìn)行比較。為了得到準(zhǔn)確 的測量結(jié)果，德國科學(xué)家艾利斯特?阿貝提出一個比較的形式，即被測對象與測量標(biāo)準(zhǔn)器之間相對位置的原則：測量時被測對象的軸線與標(biāo)準(zhǔn)器軸線相重合或者在其延長線上，稱為阿貝原則。不符合阿貝原則而產(chǎn)生的測量誤差稱之為阿貝誤差。

圖1 — 1為符合阿貝原則的比較形式。當(dāng)標(biāo)準(zhǔn)線紋尺1和被測線紋尺2作比較時，如由導(dǎo)軌3產(chǎn)生運(yùn)動直線度偏差，而引起讀數(shù)顯微鏡傾斜一個φ角，此時所引起的誤差：由此可知，在符合阿貝原則時，受傾斜角φ的影響，為二次誤差。當(dāng)φ角較小 時，甚至可略去不計(jì)。

圖1 — 2為不符合阿貝原則的比較形式。被測線紋尺不在標(biāo)準(zhǔn)線紋尺的軸線上, 并聯(lián)布置相距為S,導(dǎo)軌同樣產(chǎn)生運(yùn)動直線 度偏差，傾斜角為如此時所引起的誤差。

由此可見，不符合阿貝原則時，被測軸線與標(biāo)準(zhǔn)器軸線之間距離S越大，其阿貝誤差越大。在使用不符合阿貝原則的儀 器進(jìn)行測量時，應(yīng)盡量減少被測對象與標(biāo)準(zhǔn)器之間軸向平行距離。

二、最小變形原則

在測量過程中，由于被測件自重、內(nèi)應(yīng)力以及熱膨脹等因素和接觸測量時所受的測 力、接觸方式等影響，被測件和儀器的部分零部件都會產(chǎn)生變形而影響測量的結(jié)果。為保證測量結(jié)果的準(zhǔn)確度，應(yīng)盡量減少各種因素產(chǎn)生的變形，這就是最小變形原則。條狀工件由于受自重彈性變形的影響，在測量時要考慮工件支承方式，如圖1 — 3。當(dāng)a = 0.220 3L 時，工件中心軸線上的長度變形最小，該支承點(diǎn)稱為白塞爾點(diǎn)，一般在線紋尺測量時采用 這種支承方式。當(dāng)a = 0.211 3L時，工件兩端面平行度變形最小，該支承點(diǎn)稱為艾利點(diǎn)， 一般在大尺寸量塊測量時采用的支承方式。當(dāng)a = 0.223 2L時，工件全長彎曲變形最小，一般在測量工件上表面形狀誤差時采用的支承方式。

三、    最短測量鏈原則

若測量系統(tǒng)由一系列單元所組成，從測量信息的輸入到量值的輸出構(gòu)成這些單元。這 一系列單元所組成的完整部分稱為測量鏈。例如，在萬能工具顯微鏡上用影像法測量小于半圓的圓弧半徑，釆用弦高法測量。先測量半圓圓弧的弦長和弦高，再求得半圓的圓弧半徑。測量半圓圓弧的弦長和弦高為兩個測量單元，測量半圓的圓弧半徑為一個測量鏈。由于測量鏈的各個環(huán)節(jié)不可避免地引入誤差，環(huán)節(jié)越多，誤差越多。為保證測量準(zhǔn)確度，測量鏈應(yīng)為最短。

四、    封閉原則

圓分度的封閉特性決定了在圓分度測量中如果能滿足封閉條件，則其相鄰偏差的總和為零。在角度測量中更為重要，圓分度盤、多面棱體、多齒分度臺和四方體等都具有封閉特性。運(yùn)用封閉原則，可不需更高等級的標(biāo)準(zhǔn)器，實(shí)現(xiàn)自檢或互檢。

五、    基準(zhǔn)統(tǒng)一原則

設(shè)計(jì)基準(zhǔn)、工藝基準(zhǔn)、加工基準(zhǔn)、裝配基準(zhǔn)與測量基準(zhǔn)相一致，稱為五基準(zhǔn)統(tǒng)一原則。在工藝設(shè)計(jì)和加工中力求達(dá)到與設(shè)計(jì)、裝配基準(zhǔn)相統(tǒng)一，測量時也是如此。在設(shè)計(jì)基準(zhǔn)難以與工藝、加工基準(zhǔn)相統(tǒng)一的條件下，測量基準(zhǔn)首選與設(shè)計(jì)基準(zhǔn)相統(tǒng)一。

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